關(guān)于我們 | 聯(lián)系我們 | 定制服務(wù) | 訂購流程 | 網(wǎng)站地圖 設(shè)為首頁 | 加入收藏

熱門搜索:汽車 行業(yè)研究 市場研究 市場發(fā)展 食品 塑料 電力 工業(yè)控制 空調(diào) 乳制品 橡膠

當(dāng)前位置: 主頁 > 產(chǎn)業(yè)觀察 > IT通訊 >  東京電子推出晶圓級(jí)電容式MEMS測試機(jī)臺(tái)

東京電子推出晶圓級(jí)電容式MEMS測試機(jī)臺(tái)

Tag:
    東京電子(TEL)在2008年度Semicon-Japan上推出TEMEON?系列之一的晶圓級(jí)MEMS測試機(jī)臺(tái)TEMEON?-C,用于電容式讀出MEMS器件。

    在2006年,TEL推出針對(duì)壓阻式MEMS傳感器晶圓級(jí)測試的TEMEON?-M ,并已進(jìn)入量產(chǎn)。針對(duì)目前更為復(fù)雜的電容式MEMS器件,TEMEON?-C可實(shí)現(xiàn)在晶圓級(jí)對(duì)加速度計(jì)和陀螺儀等器件精確的電容測量。

    TEMEON?-C使用TEL的專利技術(shù)去除寄生電容以實(shí)現(xiàn)在任何測試環(huán)境下在晶圓級(jí)精確穩(wěn)定地量測fF (femto Farad) 量級(jí)的靜態(tài)電容。TEMEON?-C還可以直接量測動(dòng)態(tài)電容以及MEMS結(jié)構(gòu)的物理位移,反饋共振頻率和品質(zhì)因子(Q-Value),以及通過/失效結(jié)果。