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安捷倫科技與海力士半導(dǎo)體公司聯(lián)合推出用于驗(yàn)證 DDR、GDDR 存儲器的長線 ZIF 探針

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安捷倫科技公司（NYSE：A）日前宣布：安捷倫與全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體存儲器產(chǎn)品供應(yīng)商――海力士半導(dǎo)體公司（Hynix Semiconductor Inc.）攜手推出一款高帶寬、高性能的長線 ZIF（零插入力）探針，該探針經(jīng)過優(yōu)化，適用于 DDR（雙數(shù)據(jù)速率）和 GDDR（圖形雙數(shù)據(jù)速率）SDRAM 的驗(yàn)證測試。當(dāng)距離探測信號較遠(yuǎn)時(shí)，長線 ZIF 探針使工程師能夠?qū)Ω咚傩盘栠M(jìn)行精確的測量。這些探針與安捷倫屢獲殊榮的 InfiniiMax 和 ZIF 探測系統(tǒng)結(jié)合使用，可提高每個(gè)焊接件的可用性并降低測試成本。
該探測選件解決了 DDR 設(shè)計(jì)中的一個(gè)基本難題：使工程師能夠在保持信號完整性的同時(shí)，對 DRAM 芯片上難以觸及的位置進(jìn)行探測。隨著 DDR 和 GDDR SDRAM 器件的速度不斷提高，設(shè)計(jì)裕量變得越來越少，探測系統(tǒng)的性能也變得更加重要。長線 ZIF 探針解決了這個(gè)探測難題。

DDR 和 GDDR 驗(yàn)證的另一個(gè)難題是根據(jù) JEDEC 技術(shù)指標(biāo)需要測試大量信號。長線 ZIF 探針使工程師能夠輕松地對 SDRAM 設(shè)備上需要探測的多個(gè)信號進(jìn)行切換。

長線 ZIF 探針完全滿足對 DDR 存儲器設(shè)計(jì)進(jìn)行全面一致性測試的需求。

海力士圖形存儲器應(yīng)用部副總裁 Kun-Sang Yoon表示：“我們對原來的 Agilent ZIF 探針附件一直都非常滿意，但是我們希望有更長、更靈活的探針，以便能夠探測距離更遠(yuǎn)的信號。安捷倫聽取了我們的反饋意見，并快速做出回應(yīng)，為我們提供了令人滿意的探測解決方案。長線 ZIF 探針附件具有很高的信號完整性性能，使我們能夠精確測量高速信號。”

安捷倫科技副總裁兼示波器產(chǎn)品線部門總經(jīng)理Scott Sampl表示：“安捷倫密切關(guān)注客戶的需求。我們的專家與海力士等業(yè)界領(lǐng)先廠商以及標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)緊密合作，所以我們能夠迅速做出反應(yīng)，及時(shí)進(jìn)行改變，以提高測量效率和精度。從 BGA 探測技術(shù)到一致性應(yīng)用軟件，我們都擁有合適的工具，可以幫助工程師快速驗(yàn)證 DDR 和 GDDR 存儲器設(shè)計(jì)。”

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